English

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Oneindig gecorrigeerd metallurgisch objectief voor beeldvorming door silicium heen en procesbewaking met vezellasers

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Oneindig gecorrigeerd metallurgisch objectief voor beeldvorming door silicium heen en monitoring van vezellaserprocessen. Uitgelichte afbeelding.
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Oneindig gecorrigeerd metallurgisch objectief voor beeldvorming door silicium heen en procesbewaking met vezellasers
  • NIR Plan Apo 50X/0.67 – Oneindig gecorrigeerd metallurgisch objectief voor beeldvorming door silicium heen en procesbewaking met vezellasers

NIR Plan Apo 50X/0.67 – Oneindig gecorrigeerd metallurgisch objectief voor beeldvorming door silicium heen en procesbewaking met vezellasers

De NIR Plan Apo 50X/0.67 is een hoogwaardig, oneindig gecorrigeerd plan-apochromatisch microscoopobjectief dat specifiek is geoptimaliseerd voor nabij-infrarood (NIR) toepassingen. Met een numerieke apertuur (NA) van 0,67 en een werkafstand (WD) van 10 mm levert het een uitzonderlijke resolutie (0,5 µm) en een uitstekende NIR-transmissie over het zichtbare spectrum van 380–700 nm, evenals de kritische golflengte van 1064 nm. Dit maakt het ideaal voor inspectie van de achterzijde van siliciumwafers, TSV-metrologie (through-silicon via) en realtime monitoring van fiberlaserbewerkingen.

Belangrijkste specificaties:

  • Vergroting: 50x
  • Numerieke apertuur (NA): 0,67
  • Werkafstand (WD): 10 mm
  • Brandpuntsafstand: 4 mm
  • Resolutie: 0,5 µm
  • Scherptediepte (±DF): 0,75 µm
  • Maximale beeldhoek: 0,5 mm
  • Gewicht: 430 g
  • Optisch ontwerp: Oneindig gecorrigeerd, plan apochromaat (APO)
  • Werkgolflengte: 380–700 nm & 1064 nm
  • Dompelmedium: Lucht

Productdetails

Productlabels

Typische toepassingen:
Halfgeleiderinspectie– Inspectie van de achterzijde van de wafer, meting van TSV's (through-silicon via's), controle op defecten na lasersnijden
Foutanalyse– Niet-destructieve beeldvorming door siliciumsubstraten voor het inspecteren van ingebedde structuren
Laserbewerking– Realtime observatie van 1064 nm vezellaserablatie, boren of lassen in materiaalkunde en productie.
Metallurgie en materiaalkunde– Inspectie met hoge resolutie van door laserwarmte beïnvloede zones, hergesmolten lagen en microstructuren
NIR-fluorescentiemicroscopie– Voor biologische of materiaalmonsters die nabij-infrarood excitatie vereisen
Microscoopobjectief


  • Vorig:
  • Volgende:
    • Schrijf hier je bericht en stuur het naar ons.

    PRODUCTCATEGORIEËN

    Wavelength richt zich al 20 jaar op het leveren van zeer nauwkeurige optische producten.

    Druk op Enter om te zoeken of op ESC om te sluiten.